品質保証
RF-IF-Rfid Includeによるパーツテスト
- HD目視検査
シルクスクリーン、コーディング、高精細度を含む高精細度外観テストは、はんだボールを検出します。これにより、酸化した部品と元の部品かどうかを検出できます。
- 最終機能テスト
機能テスト中、DUTからの出力信号の電圧レベルは、機能コンパレータによってVOLおよびVOH基準レベルと比較されます。出力ストローブには、各出力ピンのタイミング値が割り当てられ、出力電圧をサンプリングするためのテストサイクル内の正確なポイントを制御します。
- オープン/ショートテスト
オープン/ショートテスト（導通テストまたは接触テストとも呼ばれます）は、デバイステスト中に、DUTのすべての信号ピンに電気的接触があり、信号ピンが別の信号ピンまたは電源/グラウンドに短絡していないことを確認します。
- プログラミング機能テスト
読み取り、消去、プログラム機能、およびデジタルメモリ、マイクロコントローラー、MCUなどのチップのブランクチェックを確認する
- X線およびROHSテスト
X-RAYは、ウェーハとワイヤボンドおよびダイボンドが良好かどうかを確認できます。 ROHSテストは、太陽光発電装置による製品ピンとはんだコーティングの鉛含有量の環境保護によるものです。
- 化学分析
検証済みの製品は化学分析によってオリジナルである
テストラボシーン
